天津瑞利光電科技有限公司優勢經銷Walter 3D光學坐標測量機Helicheck Basic 3

Walter 3D光學坐標測量機Helicheck Basic 3
Helicheck Basic 3設計用于非準確刀具的非接觸式完整測量，具有各種復雜的幾何形狀。所有相關檢測參數均使用 安裝的攝像頭*自動測量，這些攝像頭取代了傳統的測量儀器，如輪廓投影儀和測量顯微鏡。旋轉對稱的生產零件和砂輪的測量也是可能的。可重復的，獨立于用戶的測量可提供安全性并節省時間和 。循環測量任務保存在系統中，可以重復多次。在透射光下（放大倍數= 50倍，可選100倍），可以在ø2到100 mm的標準范圍內進行測量，測量范圍可以從ø100到320 mm。對于端面和周邊側的入射光測量，放大倍率為100倍，max值為100倍。長度320毫米。根據VDI / VDE 2617的長度偏差為E1 =（2,0 + L / 300）μm，重復準度<1.5μm（可選E1 =（1,4 + L / 300）μm且<1μm重復準度可降低<25 mm和100倍放大的測量范圍。
參數：
涂層：RAL 9003/7011
軸：
X軸270毫米
Y軸455毫米
Z軸325毫米
A軸360°
準確性
直徑測量：≤1.5μm
重復準確：可選≤1μm
測量長度重復準度：≤1.5μm
對于所有線性軸X，Y，Z定位分辨率：0,05μ
對于旋轉軸A定位分辨率：約1”
測量分辨率：0,25μm
放大
透射光相機：50X
可選100x
反射光相機：100x
 

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