高分辨率掃描電子顯微鏡SEM-200易于使用
操作容易,方便使用。一般的學生閱讀操作手冊后即可獨立使用,很容易獲得高質量SEM圖像。
高分辨率掃描電子顯微鏡SEM-200具有*的5軸自動位移臺系統(X,y . Z,T,R) 方便用戶操作。!
高分辨率掃描電子顯微鏡SEM-200規格參數
有效放大:100,000X
分辨率:3nm (30KV SE圖像)
電子槍:Tungsten Flarment (W)
探測器: 標配SE探測器(BSE/EDS探測器可選)
樣品臺:X: 40mm電動, Y:60mm電動, R:360度旋轉,Z:0-60mm , T:-20~90度電動可調
樣品大小:130mm直徑,65mm長度
圖像模式:RED(320X240), TV(640x480), Slow (800x600)
Phto(1280x960, 2560x1920, 5120x3840)
拍攝幀頻:RED ( 30 幀/秒), TV ( 10 幀/秒), Slow(2幀/秒)
真空系統:Turbo Molecular Pump
自動功能:Start,Focus,Filament,Brightness/contrast
操作系統:windows7
尺寸:770(W) x 880(L)x 1500(H)mm
重量:400kg
高分辨率掃描電子顯微鏡SEM-200具有自動聚焦功能,方便 用戶快速獲得高質量SEM圖像
高分辨率掃描電子顯微鏡SEM-200具有多模式圖像處理功能,方便用戶獲得高質量SEM圖像。