美國Tektronix泰克 370B 半導體器件高精度測量晶體管測試儀
TEK370B 泰克晶體管測試儀 TEK 370B
主要參數(shù)：·半導體器件高精度測量
-上限達2000V或電流到10A的源（370A/B）
-上限到3000V（371A）
-上限到220W（370A/B）
-上限到400A（371A）
-1nA的測量分辨率
-上限到3000W（371A）
·上限到2mV的測量分辨率（370A/B）
·波形對比
·包絡顯示
·波形平均
·點光標
·Kelvin傳感測量
·全程控
·MS-DOS兼容的軟盤，方便設置參孝存儲和調用
應用
手動或自動進行半導體高分辨率DC參數(shù)測量
來料檢查
生產(chǎn)測試
過程監(jiān)視及質量控制
數(shù)據(jù)報告的生成
元件配對
失效分析
工程測試
交互式程控
所有交互式程控測量是通過有鮮明特點的前面板或GPIB來完成的。使用幾種存儲方式，調整和存儲操作參數(shù)，包括370A的非易失存儲器、內置的MS-DOS兼容的軟盤或到外部控制器。
測試夾具
測試夾具是標準附件，它提供被測器件安全防護，以保護測量人員的安全。測試夾具適應標準的A1001，中間通過Kelvin傳
感的A1005適配器、無Kelvin傳感的3芯適配器和A1023、A1024表面封裝適配器。
370程控特性曲線圖示儀
370是高分辨率特性曲線圖示儀，可應用到許多場合。370A能完成晶體管、閘流管、二極管、可控硅、場效應管、光電元件、太陽能電池、固態(tài)顯示和其它半導體器件的直流參數(shù)特性的測試。
在研發(fā)實驗室，用370A來完成新器件、SPIEC參數(shù)的提取、失敗分析和產(chǎn)生數(shù)據(jù)報告這些具體的測試工作
在制造過程中，用370A檢驗器件質量及過程監(jiān)視。
370A可進行來料檢查、器件性能測試、失效分析和器件配對這些測試工作。
技術指標 集電極電源 模式 AC,±DC,±泄露，±整流的正弦波 范圍 峰值電流（±） 峰值電流（脈沖式）（±） 16V 10A 20A 80V 2A 4A 400V 0.4A 0.8A 2000V 0.05A 0.1A 階梯信號發(fā)生器 模式 階梯：DC,80μS脈沖，300μS脈沖 階梯量程- 電流： 50nA到200mA，按1-2-5順序 電壓： 50mV到2V，按1-2-5順序 偏置 到±10X階梯幅度 階梯數(shù) 0到10 測量特性 集電極電流- 測試量程： 100nA/div(1nA分辨率）至2A/div誤差，1.5%光標讀出+0.05div設定值（點光標） 發(fā)射極電流- 測試量程： 1nA/div(10pA分辨率）至2mA/div 誤差 1.5%光標讀出+0.05div設定值+1nA 安全標準 UL1244，CSA231，HD401S1
