共焦顯微拉曼光譜儀：
主要特點：
1、靈敏度遠高于其它同類拉曼譜儀，模塊化設(shè)計，波長可任意選擇，配置靈活， 升級容易。
2、所有傳動部件均采用光柵尺閉環(huán)控制，儀器精度和重復(fù)性比其它同類光譜儀 提高了一個數(shù)量級。
3、可一次連續(xù)掃描大范圍的拉曼光譜（），無需接譜，無需使用低分辨率 光柵。
4、受保護的的顯微共焦系統(tǒng)，可連續(xù)調(diào)節(jié)共焦深度，并大大提高了儀 器的光通量和穩(wěn)定性。
5、受保護的拉曼或熒光信號一次直接成像，迅速獲得材料的空間分布。
原子力顯微鏡：
主要特點：
Bruker Dimension® Icon™ 原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米領(lǐng)域的研究者帶來了全新的 AFM 應(yīng)用體驗，其測試功能強大，操作簡便易行。仍然以世界上應(yīng)用泛的 AFM 大樣品平臺為基礎(chǔ)，齊集 Dimension 系統(tǒng)數(shù)十年的技術(shù)經(jīng)驗，廣大客戶反饋，結(jié)合工業(yè)領(lǐng)域的設(shè)備需求，進行全面革新。全新的系統(tǒng)設(shè)計，實現(xiàn)了的低漂移和低噪音水平，現(xiàn)在用戶只需要幾分鐘就可獲得真實準(zhǔn)確的掃描圖像。
Dimension® Icon™優(yōu)秀的圖像分辨率，與 Bruker *的電子掃描算法相結(jié)合，顯著提升了測量速度與質(zhì)量。Dimension®系列大樣品臺原子力顯微鏡始終處于行業(yè)地位，的 Dimension® Icon™是針尖掃描技術(shù)的又一次革新，配置溫度補償位置傳感器，實現(xiàn)了 Z 軸亞埃級和 XY 軸埃級的低噪音水平，將其應(yīng)用在90 微米掃描范圍的大樣品臺體系上，效果甚至優(yōu)于高分辨小樣品臺 AFM 的開環(huán)噪音水平。全新設(shè)計的 XYZ 閉環(huán)掃描頭，即使在較高的掃描速度工作時，也不會損壞圖像質(zhì)量，實現(xiàn)了更大的數(shù)據(jù)采集輸出量。
拉曼-原子力顯微鏡聯(lián)用系統(tǒng)：
您可以將inVia拉曼的能力與掃描探針顯微鏡（SPM和AFM）聯(lián)用，在納米尺度上研究材料的組成、結(jié)構(gòu)和特性。
聯(lián)用系統(tǒng)優(yōu)勢：
原位測量。無需在不同儀器之間移動樣品，節(jié)約時間，保證正確的分析區(qū)域。
inVia和SPM/AFM可同時作為獨立系統(tǒng)使用，而不會影響兩者的任何性能。
得到豐富的樣品信息。使用AFM記錄樣品的形貌及相關(guān)物理特性。增加拉曼分析樣品化學(xué)信息的能力，以識別材料和非金屬化合物。
可實現(xiàn)針尖增強拉曼測量（TERS），獲得納米尺度的化學(xué)信息。
選擇系統(tǒng)：
雷尼紹特殊設(shè)計的靈活的耦合臂可以用于將inVia與SPM或AFM光學(xué)整合。inVia具有極大的靈活性，能夠?qū)⑵渲苯玉詈系饺缦鹿?yīng)商的各種AFM和SPM上：
· Bruker Nano Surfaces
· Nanonics
· NT-MDT
· JPK
· Par
· NT-MDT
· JPK
· Par
