保證測量準確度
LEXT顯微鏡物鏡可提供高度準確的測量數(shù)據(jù)。與智能物鏡選擇助手（Smart Lens Advisor）搭配使用，就可獲得可靠的高精度數(shù)據(jù)。
· 有保證的測量準確度*
· 奧林巴斯享譽世界的光學器件能夠以更低像差在整個視場中捕捉樣品的真實形貌
· 智能物鏡選擇助手（Smart Lens Advisor）還可幫助您選擇合適的物鏡進行粗糙度測量
*本網(wǎng)頁上包括保證的準確度在內的信息基于奧林巴斯設定的條件。
簡化材料工程與失效分析實驗管理
測試新材料時的實驗條件管理具有復雜性，OLS5100激光顯微鏡的智能實驗管理助手（Smart Experiment Manager）可通過關鍵步驟（如創(chuàng)建實驗計劃）自動化簡化這一過程。
· 提升30％的速度加快完成測量任務 *
· 掃描計劃隨數(shù)據(jù)采集自動生成
· 無需花費時間轉錄數(shù)據(jù)，軟件為您自動完成
自動數(shù)據(jù)輸入
軟件會自動將值添加到實驗計劃矩陣中，以盡可能減少輸入錯誤的可能。只需點擊幾下鼠標，就可以將實驗數(shù)據(jù)導出到Excel電子表格。
簡捷的實驗條件數(shù)據(jù)管理
通過點擊實驗計劃中的每個單元格，軟件即可自動生成包含評估條件的文件名，從而方便保存記錄。每個文件均包含相關聯(lián)的圖像和數(shù)據(jù)。
數(shù)據(jù)采集
輕松發(fā)現(xiàn)問題
彩色 圖譜可幫助您了解實驗數(shù)據(jù)并驗證是否存在數(shù)據(jù)丟失和錯誤。如果存在問題，您可以盡早發(fā)現(xiàn)并解決。
主機
| 型號 | OLS5100-SAF | OLS5100-SMF | OLS5100-LAF | OLS5100-EAF | |
| 總倍率 | 54x–17,280x | ||||
| 視場 | 16 µm–5,120 µm | ||||
| 測量原理 | 光學系統(tǒng) | 反射式共焦激光掃描激光顯微鏡 反射式共焦激光掃描激光-DIC顯微鏡 顏色 彩色DIC | |||
| 光接收元件 | 激光：光電倍增管（2通道） 彩色：CMOS彩色相機 | ||||
| 高度測量 | 顯示分辨率 | 0.5 nm | |||
| 動態(tài)范圍 | 16位 | ||||
| 重復性σn -1*1 *2 *5 | 5X：0.45 μm, 10X：0.1 μm, 20X : 0.03 μm, 50X : 0.012 μm, 100X : 0.012 μm | ||||
| 準確度*1 *3 *5 | 0.15 + L / 100μm（L：測量長度[μm]） | ||||
| 拼接圖像準確度*1 *3 *5 | 10X：5.0+L/100 μm, 20X 或更高倍率1.0+L/100 μm (L: 拼接長度[μm]) | ||||
| 測量噪聲（Sq噪聲）*1 *4 *5 | 1 nm（典型值） | ||||
| 寬度測量 | 顯示分辨率 | 1 nm | |||
| 重復性3σn-1 *1 *2 *5 | 5X: 0.45 µm, 10X: 0.1 µm, 20X: 0.03 µm, 50X: 0.012 µm, 100X: 0.012 µm | ||||
| 準確度*1 *3 *5 | 測量值+/- 1.5% | ||||
| 拼接圖像準確度*1 *3 *5 | 10X : 24+0.5L μm, 20X : 15+0.5L μm, 50X : 9+0.5L μm, 100X : 7+0.5L μm (L: 拼接長度[mm]） | ||||
| 單次測量時*大測量點數(shù)量 | 4096 × 4096像素 | ||||
| *大測量點數(shù)量 | 3600萬像素 | ||||
| XY載物臺配置 | 長度測量模塊 | ? | 不適用 | 不適用 | ? |
| 工作范圍 | 100 × 100 mm (3.9 × 3.9 in.) 電動 | 100 × 100 mm (3.9 × 3.9 in.) 手動 | 300 × 300 mm (11.8 × 11.8 in.) 電動 | 100 × 100 mm (3.9 × 3.9 in.) 電動 | |
| 激光光源 | 波長 | 405 nm | |||
| *大輸出 | 0.95 mW | ||||
| 激光等級 | 2級（IEC60825-1：2007，IEC60825-1：2014） | ||||
| 彩色光源 | 白光LED | ||||
| 電氣功率 | 240 W | 240 W | 278 W | 240 W | |
| 質量 | 顯微鏡主體 | 約 31 kg | 約 32 kg | 約 50 kg | 約 43 kg |
| 控制箱 | 約 12 kg | ||||
用于材料分析的激光顯微鏡
更智能的工作流程，更快速的實驗設計
適用于故障分析和材料工程研究的OLS5100激光顯微鏡將**的測量精度和光學性能與智能工具相結合，讓顯微鏡更加方便使用。通過快速高效精確測量亞微米級形狀和表面粗糙度的可靠數(shù)據(jù)簡化您的工作流程。
