| 產(chǎn)品&規(guī)范 | 高溫 | 低溫 | 溫變率 | 循環(huán)數(shù) | 循環(huán) 時間 | 備注 | |
| MIL-STD-2164、GJB-1032-90 電子產(chǎn)品應力篩選 | 工作極限溫度 | 工作極限溫度 | 5℃/min | 10～12 | 3h20min | ||
| MIL-344A-4-16 電子設備環(huán)境應力篩選 | 71℃ | -54℃ | 5℃/min | 10 | |||
| MIL-2164A-19 電子設備環(huán)境應力篩選 | 工作極限溫度 | 工作極限溫度 | 10℃/min | 10 | 駐留時間為內部達到設定溫度10℃時 | ||
| NABMAT-9492 美軍hai軍制造篩選 | 55℃ | -53℃ | 15℃/min | 10 | 駐留時間為內部達到設定溫度5℃時 | ||
| GJB/Z34-5.1.6 電子產(chǎn)品定量環(huán)境應力篩選 | 85℃ | -55℃ | 15℃/min | ≧25 | 達到溫度穩(wěn)定的時間 | ||
| GJB/Z34-5.1.6 電子產(chǎn)品定量環(huán)境應力篩選 | 70℃ | -55℃ | 5℃/min | ≧10 | 達到溫度穩(wěn)定的時間 | ||
| 筆記型計算機 | 85℃ | -40℃ | 15℃/min |
電容電阻冷熱沖擊試驗箱（也叫冷熱沖擊測試箱）主要用于測試電子元件（如電容、電阻、連接器等）在惡劣溫度變化下的工作穩(wěn)定性與耐久性。該試驗箱通過模擬電容、電阻元件在快速冷熱變化環(huán)境中的行為，以評估其在實際應用中可能遭遇的溫度應力及長期使用的可靠性。
試驗箱的主要功能：
模擬環(huán)境變化： 通過快速切換高溫和低溫環(huán)境，模擬實際使用中可能發(fā)生的溫度波動，通常溫度范圍為-40℃至+150℃，甚至更寬。
溫度沖擊測試： 通過冷熱交替或快速的溫度沖擊（例如，從-40℃突然升高到+125℃），評估元件在溫差變化下的適應性，檢查其是否存在裂紋、老化、短路或斷路現(xiàn)象。
電性測試： 在冷熱沖擊過程中，可以對元件的電阻、電容值進行實時監(jiān)測，確保它們的電性能不會受到溫度變化的影響。
試驗箱的基本組成：
溫控系統(tǒng)： 包括高溫和低溫控制單元，能夠迅速實現(xiàn)溫度的快速變化。溫控系統(tǒng)要能精確控制溫度的升降速率和維持時間。
沖擊室： 內部設有適合測試樣品的空間，通常為可調節(jié)大小的試驗區(qū)。
監(jiān)控系統(tǒng)： 具備實時記錄、顯示試驗溫度、電性參數(shù)、試驗過程等數(shù)據(jù)功能，確保試驗的可控性與可追溯性。
程序控制： 高級試驗箱常配備自動化的程序控制系統(tǒng)，用戶可以設定試驗的溫度變化曲線、試驗周期等，并實現(xiàn)自動化的冷暖切換。
常見應用：
電子元件測試： 電容、電阻、電感等元件的可靠性測試。
汽車行業(yè)： 汽車電子元件的耐高溫低溫性能驗證，尤其是在電池管理系統(tǒng)（BMS）中的應用。
航空航天： 測試設備和材料在惡劣溫度變化下的適應性和穩(wěn)定性。
消費電子： 手機、計算機、家電等產(chǎn)品中電子元件的溫差耐受性測試。
冷熱沖擊試驗箱的一些關鍵指標：
溫度范圍： 通常為-40℃至+150℃，部分高中端設備可以達到更惡劣的溫度范圍。
溫度波動： 一般要求溫控精度為±2℃，保證測試環(huán)境穩(wěn)定。
溫升/降速率： 常見為5℃/min至10℃/min，快速的溫度變化速度能更真實地模擬實際環(huán)境中的溫差應力。
冷卻方式： 使用液氮或壓縮氣體（如氮氣、氟利昂）來實現(xiàn)快速降溫。
選購時的注意事項：
試驗箱容積： 選擇適合的試驗箱大小，確保能夠容納所需測試的樣品。
溫度均勻性： 確保箱內溫度均勻性，避免因局部溫差影響試驗結果。
操作方便性： 配備便捷的控制面板和顯示屏，支持程序設置與實時監(jiān)控。
安全性能： 確保設備的安全性，避免在惡劣溫差下出現(xiàn)設備故障或危險。
總之，電容電阻冷熱沖擊試驗箱是對電子元件進行環(huán)境適應性測試的重要工具，廣泛應用于研發(fā)、生產(chǎn)、質量控制等領域。如果您需要了解更詳細的技術參數(shù)或購買建議，可以告訴我更多的具體需求！
