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一、產(chǎn)品概述
晶振頻率測試儀 GDS-80P 是一款高性能的晶振測試設(shè)備，專為滿足石英晶體阻抗特性的測量需求而精心打造。該儀器采用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法，實現(xiàn)高精度的測量，符合IEC-444標(biāo)準(zhǔn)。其測試頻率范圍為10KHz-100MHz，能夠?qū)д竦亩喾N關(guān)鍵參數(shù)進(jìn)行全面、準(zhǔn)確的測試，包括串聯(lián)諧振頻率、負(fù)載諧振頻率、等效電阻、負(fù)載電阻、負(fù)載電容、動態(tài)電容、動態(tài)電感、品質(zhì)因數(shù)和頻率牽引力等。廣泛應(yīng)用于晶體行業(yè)、郵電、通信、廣播電視、學(xué)校、研究所及工礦企業(yè)等生產(chǎn)和科研領(lǐng)域。
二、核心優(yōu)勢
（一）全頻段智能測試
晶振頻率測試儀GDS-80P 實現(xiàn)10kHz–100MHz全頻覆蓋，適配從低頻計時器到高頻5G模塊的全場景需求，一機(jī)覆蓋全頻段，無需多設(shè)備采購，綜合成本降低40%。
（二）九大參數(shù)同步測量
能夠同步測量諧振頻率（串聯(lián)諧振頻率Fs、負(fù)載諧振頻率Fl）、阻抗特性（等效電阻R1、負(fù)載電阻RL、負(fù)載電容CL）、動態(tài)性能（動態(tài)電容C1、動態(tài)電感L1、品質(zhì)因數(shù)Q值、頻率牽引力TS）等九大參數(shù)。
（三）智能抗干擾設(shè)計
采用多級數(shù)字濾波技術(shù)，復(fù)雜工況下測試穩(wěn)定性提升80%；全金屬屏蔽機(jī)身，通過EMC Class B認(rèn)證，無懼電磁干擾。
（四）極速測試體驗
多線程并行處理架構(gòu)，單次測試僅需0.25秒；支持500組數(shù)據(jù)存儲，一鍵導(dǎo)出PDF/Excel報告。
（五）全場景適配
寬溫工作范圍（-30℃~70℃），滿足工業(yè)車間及實驗室環(huán)境；可選配自動探針臺，無縫對接SMD晶振產(chǎn)線檢測。
三、技術(shù)參數(shù)
| 項目 | 規(guī)格 |
|---|---|
| 測試頻率范圍 | 10KHz-100MHz |
| 負(fù)載電容 | 1-100pF |
| 負(fù)載諧振電阻 | 1Ω-300Ω，1K-300K |
| PPM范圍測量 | ±300ppm，測量精度：<0.5ppm |
| 時基頻率 | 16.384M |
| 晶振穩(wěn)定性 | 2×10??/日 |
| 體積 | 80×235×305（mm） |
| 保修期 | 三年 |
四、使用說明
（一）開機(jī)準(zhǔn)備
將晶振測試儀GDS-80P連接電源，開機(jī)后等待設(shè)備自檢完成，確保設(shè)備處于正常工作狀態(tài)。
（二）連接晶振
根據(jù)被測晶振的類型和測試需求，將晶振正確連接到儀器的測試端口。儀器可適配不同封裝的晶振，包括SMD封裝（如3225/5032等）、插件晶振（如HC-49/U/S）等。
（三）參數(shù)設(shè)置
在儀器的操作界面上，根據(jù)具體的測試要求設(shè)置相應(yīng)的參數(shù)，如測試頻率、負(fù)載電容等。儀器具備智能分析系統(tǒng)，可自動識別并適應(yīng)不同的測量需求。
（四）開始測量
確認(rèn)各項設(shè)置無誤后，點擊“開始測量”按鈕，儀器將自動進(jìn)行測量，并在屏幕上顯示測量結(jié)果。測量過程中，儀器會實時采集數(shù)據(jù)，并進(jìn)行分析處理。
（五）數(shù)據(jù)讀取與保存
測量完成后，用戶可以在儀器的屏幕上查看測量結(jié)果，包括串聯(lián)諧振頻率、負(fù)載諧振頻率、等效電阻、負(fù)載電阻、負(fù)載電容、動態(tài)電容、動態(tài)電感、品質(zhì)因數(shù)、頻率牽引力等參數(shù)。通過RS-232接口或USB接口，可將測量數(shù)據(jù)上傳至電腦進(jìn)行數(shù)據(jù)管理和分析。
五、采購信息
- 價格：晶振測試儀GDS-80P的參考價為25800元/臺，具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)。
- 訂貨量：≥1臺，可根據(jù)實際需求進(jìn)行采購。
- 供貨期：一般為7-15個工作日，具體以供應(yīng)商確認(rèn)為準(zhǔn)。
