XRF鍍層測厚儀FT230
FT230臺式XRF分析儀的設計大大減少了進行測量的時間。日立工程師意識到樣品的設置和測量配方的選擇往往會耗費大量的時間，因此推出了一個有著突破性的分析儀，其可以有效地 "設置 "自己，使得在過程中可以分析更多的零件。
自動化和創(chuàng)新軟件是FT230分析儀的特點。智能識別模塊，如Find My Part™（查找我的樣品），意味著操作者只需裝載樣品，確認零件，F(xiàn)T230就會處理其余的事情。它將在您的部件上找到正確的測量位置--即使是在大型基材上--選擇正確的分析程序并將結果發(fā)送到您的質量系統(tǒng)。減少了時間和人為的錯誤，使得你可以在更短的時間內完成更多的分析，使的檢查在繁忙的生產(chǎn)環(huán)境中更加現(xiàn)實。
XRF鍍層測厚儀FT230產(chǎn)品亮點：
FT230的每一個部分都是為了大幅減少分析時間而設計的。
自動聚焦減少樣品裝載時間
Find My Part™ 自動進行智能識別以設置完整的測量程序
屏幕大部分區(qū)域用來顯示樣品視圖，提供了的可視度
自檢診斷程序確保了儀器的狀況和穩(wěn)定性
與其他軟件的無縫集成使其能夠輕松導出數(shù)據(jù)
由于采用了新的用戶界面，非專業(yè)人員也能直觀、方便地使用。
功能強大，可同時測量四層鍍層也可分析基質
經(jīng)久耐用，在充滿考驗的生產(chǎn)或實驗室環(huán)境中使用壽命長
符合ASTM B568和DIN ISO 3497標準
幫助您滿足ENIG（IPC-4552B）、ENEPIG（IPC-4556）、浸沒錫（IPC-4554）和浸沒銀（IPC-4553A）的規(guī)格要求
FT230 臺式 XRF 分析儀技術規(guī)格：
分析 | 詳細 |
X射線管 | 鎢（W）靶微焦點X射線管，自上向下照射式 更大50 kV，1000µA，50 W |
探測器 | 高分辨率, 大面積50 mm2 SDD |
初級濾波器 | 5個初級濾波器（2種鋁膜、鈦膜、鉬膜、鎳膜）+ 1個無濾波器位 |
準直器 | 4個準直器，有長圓形和圓形兩種可供選擇，尺寸范圍為從0.01 x 0.25 mm到1 mm（0.5 x 10 mil到40 mil） |
元素范圍 | 鋁（13） -鈾（92） |
層數(shù) | 最多5層（4層加基底） |
可選元素 | 自由選擇 |
大氣補償 | 自動溫度和壓力補償 |
規(guī)范 | 能量色散X射線熒光測量鍍層符合ASTM B568、DIN ISO 3497 |
分析 詳細內
