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公司介紹主營產品

廣州四探針科技有限公司組建于一九九八年。多年來，在社會各界的支持和全體員工的不懈努力下，我們在半導體材料專用測試儀器銷售領域建立起很高的度和信譽度，現已擁有完善的市場體系、營銷管理體系和客戶服務體系。我們的宗旨是致力于測試和測量科技的溝通與倡導，用誠摯的服務幫助用戶提高工作效率和能力，并通過積極的奮斗與追求，為自身發展營造機會、利潤與能量。本公司的產品是以自主研制產品為主兼代理銷售其它國內外半導體測試儀器公司的產品。滿足各行業的不同需要，儀器和配件系列已廣泛應用于半導體材料、太陽能電池、功能材料、電子器件的生產單位、科研院所和高等院校。主要產品：四探針測試儀、方塊電阻測試儀、導電類型鑒別儀、單晶少子壽命測試儀、CV電容電壓特性測試儀、恒流源、探針測試臺，探針頭、測試軟件、按用戶需求提供相應測試解決方案。用戶是我們生存的基礎。我們對用戶的態度是積極負責。我們憑借完整的管理體系了解和總結用戶的需求，并將我們的服務在沒有任何折扣的條件下直接送達，與其共同感受科技帶給我們的高效和快捷。我們決不辜負用戶對我們的信任，以充分發揮和完善我們基于制造商、用戶之間的橋梁作用。本公司在市場日益走向世界化的今天，全體員工各盡所長，相互合作，秉承“客戶滿意、服務快捷、創新進取、永續經營”的經營宗旨，以確保用戶得到更優質的產品和更高質量的服務

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ST-21L型方塊電阻測試儀ST-21L型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻

ST-21L型方塊電阻測試儀產品詳情

ST-21L

型

方

塊

電

阻

測

試

儀

ST-21L型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。

該儀器以大規模集成電路為主要核心；用基準電源和運算放大器組成高精度穩流源；帶回路有效正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、精度高的特點。

◆ 特點：

采用大規模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩定，低功耗；

以大屏幕LCD顯示讀數，直觀清晰；

采用單個電池供電，帶電池欠壓指示；

體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；

特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜

探頭帶抗靜電模塊

◆ 技術指標：

測量范圍	按方塊電阻量值大小分為二個量程檔： 1.方塊電阻 1.000～19.999Ω/□； 2.方塊電阻 10.00～199.99Ω/□；最小分辨率：0.001Ω/□
恒流源	測量過程誤差：≤±0.8%
模數轉換器	量程：0～199.99mv；分辨率：10μv；方式：LCD大屏幕顯示；極性，超量程均自動顯示；小數點同步顯示；
測量不確定度	在整個量程范圍內，測量不確定度≤5%
四探針探頭規格	間距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ
電源	使用一節450mAH的鋰電池

◆ ST-21L方塊電阻測試儀可選配HP系列四探針探頭的型號及規格：

型號 (Model)	曲率半徑 (Radius)	壓力 (loads)	探針間距 (spacing)	探針排列 (Arrangement)
HP-501	0.5mm	100g	3.8mm	直線
HP-502	0.75mm	100g	3.8mm	直線
HP-503	0.1mm	150g	1mm	直線
HP-504	0.5mm	100g	1.59mm	直線

◆ ST-21L方塊電阻測試儀可選配SP-601型方型四探針探頭的型號及規格：

型號 (Model)	曲率半徑 (Radius)	壓力 (loads)	探針間距 (spacing)	探針排列 (Arrangement)
SP-601	0.5mm	100g	1.59mm	方形

下載ST-21L型方塊電阻測試儀產品資料(PDF)

返回方塊電阻測試儀產品目錄

關鍵詞：電阻測試儀標準模數轉換器

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