產(chǎn)品特點(diǎn)：
1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)LCR測(cè)量、DCR測(cè)量、掃描測(cè)量等的連續(xù)測(cè)量和高速檢查
LCR模式下快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測(cè)量基本精度±0.08%的高精度測(cè)量
適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測(cè)量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測(cè)量
分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測(cè)量、電平掃描測(cè)量、時(shí)間間隔測(cè)量
可以用于無(wú)線充電評(píng)價(jià)系統(tǒng)TS2400
搭配4ch掃描模塊機(jī)架，更能實(shí)現(xiàn)2MHz阻抗的4ch測(cè)量
產(chǎn)品功能：
低電容(高阻抗)測(cè)量，提高穩(wěn)定性和以往的產(chǎn)品相比，將測(cè)量低電容(高阻抗)時(shí)的重復(fù)精度提高了一位。
例如：１pF(1MHz，1V)的條件下，測(cè)量速度SLOW2的話，重復(fù)精度(偏差)*可達(dá)0.01%，實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定測(cè)量。
同時(shí)，因?yàn)橐蔡岣吡讼辔坏闹貜?fù)精度，所以提高了低電容(高阻抗)測(cè)量時(shí)的D測(cè)量的穩(wěn)定性。
重復(fù)精度(偏差)是在*大和*小之差的基礎(chǔ)上計(jì)算出來(lái)的。
廣范圍的測(cè)量頻率
IM3570可在DC和4Hz～5MHz的范圍內(nèi)以5為分辨率(1kHz以下為0.01Hz分辨率)設(shè)置頻帶。可進(jìn)行共振頻率測(cè)量和接近工作條件狀態(tài)下的測(cè)量和評(píng)估。
15種參數(shù)測(cè)量
可測(cè)量Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流電阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q的參數(shù)，還可以將需要的參數(shù)讀取至計(jì)算機(jī)中。
具備接觸檢查功能(開(kāi)路檢查)
按照4端子測(cè)量(僅低阻抗高精度模式時(shí))，2端子測(cè)量的接觸檢查功能，可以防止測(cè)試端子未接觸被測(cè)物時(shí)進(jìn)行誤測(cè)。
比較器
LCR模式下，可在1個(gè)畫(huà)面中從測(cè)量項(xiàng)目里判定2種參數(shù)的Hi/IN/Lo。判定方法除了**值設(shè)定以外，還有%設(shè)定、Δ%設(shè)定。使用連續(xù)測(cè)量，可判定多個(gè)測(cè)量條件·測(cè)量項(xiàng)目。
BIN測(cè)量
可對(duì)2個(gè)項(xiàng)目進(jìn)行10個(gè)分類(lèi)和范圍外的分類(lèi)。
分區(qū)設(shè)置
掃頻范圍可通過(guò)設(shè)定多測(cè)試801個(gè)頻點(diǎn)，分成20個(gè)頻率區(qū)間。可以詳細(xì)評(píng)估在多個(gè)頻率區(qū)間內(nèi)的特性。
內(nèi)部可發(fā)生DC偏置電壓
只需主機(jī)即可施加大2.5V的DC偏置電壓進(jìn)行測(cè)量。可放心對(duì)鉭電容等極性電容器進(jìn)行測(cè)量。充電阻抗為100Ω。
高分辨率，大7位顯示
可進(jìn)行多7位顯示的高分辨率測(cè)量。可設(shè)置3~7位的顯示位數(shù)。
測(cè)試線長(zhǎng)可達(dá)4m
4端子的構(gòu)造降低了測(cè)試線的影響，測(cè)量線長(zhǎng)0、1、2、4m時(shí)，保證測(cè)試精度。自動(dòng)設(shè)備的排線方便簡(jiǎn)單。(根據(jù)線長(zhǎng)的不同，精度保證的頻率范圍也不同。
