【儀表網(wǎng) 儀表新品】坐標(biāo)測(cè)量機(jī)是有代表性的坐標(biāo)測(cè)量?jī)x器。坐標(biāo)測(cè)量機(jī)中，以測(cè)量?jī)x器的平臺(tái)為參考平面建立機(jī)械坐標(biāo)系，采集被測(cè)工件表面上的被測(cè)點(diǎn)的坐標(biāo)值，并投射到空間坐標(biāo)系中，構(gòu)建工件的空間模型。
 

　　坐標(biāo)的概念源于解析幾何。解析幾何的基本思想是構(gòu)建坐標(biāo)系，將點(diǎn)與實(shí)數(shù)聯(lián)系起來，進(jìn)而可以將平面上的曲線用代數(shù)方程表示。從這里可以看到，運(yùn)用坐標(biāo)法不僅可以把幾何問題通過代數(shù)的方法解決，而且還把變量、函數(shù)以及數(shù)和形等重要概念密切聯(lián)系了起來。坐標(biāo)的概念應(yīng)用到工業(yè)生產(chǎn)中解決了大量實(shí)際問題，而且絕大部分現(xiàn)代測(cè)量?jī)x器都是在坐標(biāo)測(cè)量原理的基礎(chǔ)上建立的。
 

　　另外，在坐標(biāo)測(cè)量技術(shù)中，我們首先需要通過機(jī)械的方法建立實(shí)際可見的坐標(biāo)系，然后將測(cè)量點(diǎn)用坐標(biāo)表示方法一一對(duì)應(yīng)，再利用空間幾何關(guān)系就可以獲得所需的各測(cè)量值了。例如在坐標(biāo)測(cè)量機(jī)中，我們以測(cè)量?jī)x器的平臺(tái)為參考平面建立機(jī)械坐標(biāo)系，采集被測(cè)工件表面上的被測(cè)點(diǎn)的坐標(biāo)值，并投射到空間坐標(biāo)系中，構(gòu)建工件的空間模型。有了工件的空間模型，坐標(biāo)測(cè)量機(jī)就可以計(jì)算出所需的幾何參數(shù)。
 

　　近日，小編了解到，Keyence宣布發(fā)布其XM系列手動(dòng)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)(CMM)的更新。更新后的XM-200 CMM包括一個(gè)新的手持式測(cè)頭，該測(cè)頭帶有三排LED標(biāo)記，具有三個(gè)階梯式高度差，從而提供了更高的穩(wěn)定性并實(shí)現(xiàn)了更高的測(cè)量精度。
 

　　新型手持式測(cè)頭配備了符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)的手柄，攝像頭和狀態(tài)確認(rèn)LED，并由耐油的PBT樹脂制成。該測(cè)量系統(tǒng)采用高精度技術(shù)，可通過超堅(jiān)固的相機(jī)捕獲12個(gè)標(biāo)記物發(fā)出的近場(chǎng)光。使用每個(gè)標(biāo)記的坐標(biāo)數(shù)據(jù)，機(jī)器可以確定探針在空間中的位置和方向。標(biāo)記數(shù)量的增加(在以前的型號(hào)上為7)使探針能夠以更高的靈活性進(jìn)行測(cè)量，從而可以從任何探針角度測(cè)量特征點(diǎn)。
 

　　XM-200可以通過簡(jiǎn)單的軟件概念測(cè)量復(fù)雜的形狀和幾何特征，任何人都可以立即開始測(cè)量。安裝在探頭的一體式攝像機(jī)投射的攝像機(jī)圖像可以被軟件捕獲并用于指導(dǎo)用戶進(jìn)行后續(xù)測(cè)量。合成圖像顯示測(cè)量位置，元素名稱和測(cè)量結(jié)果，同時(shí)顯示這些圖像，即使是CMM的新手也可以直觀地了解它們?cè)谀睦餃y(cè)量。
 

　　我們要知道，現(xiàn)代坐標(biāo)測(cè)量機(jī)不僅能在計(jì)算機(jī)控制下完成各種復(fù)雜測(cè)量，而且可以通過與數(shù)控機(jī)床交換信息，實(shí)現(xiàn)對(duì)加工的控制，還可以根據(jù)測(cè)量數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)逆向工程。
 

　　坐標(biāo)測(cè)量機(jī)已廣泛用于機(jī)械制造業(yè)、汽車工業(yè)、電子工業(yè)、航空航天工業(yè)和國(guó)防工業(yè)等各部門，成為現(xiàn)代工業(yè)檢測(cè)和質(zhì)量控制不可缺少的測(cè)量設(shè)備。
 

　　隨著坐標(biāo)測(cè)量機(jī)開始應(yīng)用在越來越多的領(lǐng)域，坐標(biāo)法測(cè)量的思想在測(cè)量領(lǐng)域已經(jīng)開始普及，也開始改變影像測(cè)量行業(yè)。影像測(cè)量?jī)x的測(cè)量平臺(tái)繼承了坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的形式，但在測(cè)頭上，則與光學(xué)比較儀或工具顯微鏡相似。坐標(biāo)測(cè)量機(jī)有二維，有三維，使用較多的就是三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。