目前市場上有多種等級的Al可供使用，以適應其多樣化和普及性的應用。倫敦金屬交易所（LME）列出了兩種常用鋁純度的規格：99.5％和99.7％，每種規格均了多六種無機雜質。由于電感耦合等離子光譜技術（ICP-OES）能夠輕松處理高基質樣品且操作簡便，因而成為測定鋁中雜質元素的好選擇。
珀金埃爾默Avio® 系列ICP-OES是進行此類檢測實驗室的理想選擇。
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其光學設計提供出色的光通量，這對在較短的分析時間內要測量較低的濃度非常重要。
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使用電荷耦合檢測器（CCD），可同時提供背景和分析物測量，這在進行金屬基質類樣品分析時非常重要。
本文使用Avio 200 ICP-OES測定LME規格要求的鋁中的雜質元素，通過極短的測量讀取時間和不足 1 分鐘的單個樣品檢測時間，輕松完成滿足檢測限要求的檢測。為防止樣品于接口處沉積而做的優化設計，保證方法在至少4個小時內保持穩定。
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