在電鍍或電子元件生產過程中需要快速且準確地測定鍍層厚度時，XUL®系列測量儀器是您的*選解決方素。X射線熒光儀諸可自 下而上進行測量，能夠在測量臺上對樣品進行輕松定位。該系列的所有X射線儀器均配備相同的探測器。您可以根據自己的測量 需求選擇不同的準直器、濾波器以及X射線管。
型號包括:
FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® 210
FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® 220
FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® 240
特性：
憑借竟大的測量室和自下而上的測量方向，即使大型樣品（如：印制電路板或柔性電路板）也可簡便、快速地定位
硬件選項豐富多樣，可滿足各種測量需求
可選配微聚焦X射線管，從而可測量直徑僅為100卩m的微型結構和測量表面
應用：
鉻鍍層，如：經過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
防腐蝕鍍層，如鋼材上的鋅鍍層
印制電路板和柔性電路板上的鍍層
接插件和連接器上的鍍層
電鍍槽液分析
特征：
帶玻璃窗口和鋁靶的X射線管或帶鍍窗口和鋁靶的微聚焦X射線管。*高工作條件:50KV,50W
X射線探測器采用比例接收器
準直器:固定或4個自動切換，0.05 x0.05mm到直徑00.3mm
基本濾片固定或3個自動切換
測量距離可在0-27.5mm范圍內調整
固定的樣品支撐臺或手動XY工作臺
攝像頭用來查著基本射線軸向方向的測量位置。刻度線經過校準，顯示實際測量點大小。
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