無錫誠成儀器儀表有限公司
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Agilent4287A射頻LCR測試儀1MHz～3GHz，以10kHz分檔阻抗測量范圍寬，從200mΩ到3kΩ在低試信號電平上具有優良的測量重復性基本精度為1%高速測量:10ms安捷倫4287A射頻LCR測試儀在1MHz～3GHz頻率范圍可以提供精確、可靠和快速測量，以改進生產線上對電子元件進行測試的質量和生產率
1MHz～3GHz，以10kHz分檔
阻抗測量范圍寬，從200mΩ到3kΩ
在低試信號電平上具有優良的測量重復性
基本精度為1%
高速測量:10ms
安捷倫 4287A射頻LCR測試儀在1 MHz～3 GHz頻率范圍可以提供精確、可靠和快速測量，以改進生產線上對電子元件進行測試的質量和生產率。與反射測量技術不同，采用直流電壓測量技術能在大的阻抗范圍進行精確測量。
生產率高、質量可靠
安捷倫 4287A 適于在射頻范圍對電子元器件進行測試。4287A的測量速度非常快。此外，在小測試電流(100mA)處優良的測試重復性還可以顯著提高生產率，因為所需的取平均過程非常短。
系統組建簡單
測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件接點附近，而不會使誤差有任何增大。內置比較器功能、高速GPIB接口和處理器接口可用來簡化與元件固定裝置和PC機的組合。增強的比較器功能可以使復雜的倉室適用于多頻或陣列芯片測試。
便于使用
8.4英寸彩色顯示器能清楚觀察測量設置和結果。新研制的用戶接口使操作過程更為方便且無差錯。內置統計分析功能可以提供監視測試質量和效率的過程。可選用的LAN接口有助于統一進行生產監控。此外，若干APC-7，SMD測試夾具可以與4287所提供的夾具架和APC-3.5轉APC-7適配器聯用，從而無需制作專用夾具。
技術指標
測量參數：|Z|，|Y|，L，C, R，D, Q, X，G，B，θ
測量電路形式：串聯和并聯
工作頻率：1 MHz～3 GHz
頻率分辨率：10 kHz
信號源特性：
振蕩器電平：5mVrms～0.25Vrms(輸出端開路)
電平顯示單位：V，I，dBm
連接器：APC-3.5
輸出阻抗(額定值)：50Ω
觸發：內部，外部，手動和GPIB
阻抗測量范圍：200 mΩ～3 kΩ
基本測量精度：|Z|:1%；D:0.01
測量時間：10 ms
接口：GPIB，處理器接口
顯示器：8.4英寸彩色LCD顯示器
儲存：內置HDD/FDD，備用SRAM存儲器
一般指標
工作溫度/濕度：10～40℃/相對濕度15%～80%
預熱時間：30分鐘
電源要求：90V～132V,或198V～264V，47Hz～66Hz，500VA(值)
尺寸：主機：426mm(寬)×234mm(高)×446mm(長)
主要技術資料
4287A射頻LCR 測試儀產品介紹，p/n 5968-5443E
4287A技術指標，p/n 5968-5758E
LCR 測試儀，阻抗分析儀和測試夾具選購指南，p/n 5952-1430E
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