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當前位置：上海衡翼精密儀器有限公司>>專用試驗設備>>沖擊缺口制樣機>> HY-IC卡片動態彎扭試驗機
HY（IC）IC卡片動態彎扭試驗機技 術 參 數:
本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1，國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標準等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗; *符合以上標準。
外形尺寸：L670 X W380 X H220
儀器重量：70kg
電 壓：AC220V±5%
功 率：35W
測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
測試周期：1~9999次
扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm
正反向各15°，總扭曲角度30°
長邊Z大位移量為20mm（+0.00mm,-1 mm）
長邊Z小位移量為2mm±0.50mm，
短邊Z大位移量為10mm（+0.00mm,-1 mm）
長邊Z小位移量為1mm±0.50mm，
夾具安裝尺寸*按照國家標準執行。
3、產品用途：
用于檢測磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測試。
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公司承諾：
1.購機前，我們專門派技術人員為您設計Z佳的流程和方案
2.購機后，將免費指派技術人員為您調試安裝
3.整機保修一年，產品終身維護
4.常年供應設備的易損件及耗品確保儀器能長期使用
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