內(nèi)容簡(jiǎn)介

本書包括了電子元器件可靠性試驗(yàn)的各主要類別：環(huán)境試驗(yàn)（包括13類環(huán)境和綜合環(huán)境試驗(yàn)）；壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)；鑒定試驗(yàn)；極限應(yīng)力試驗(yàn)；可靠性篩選試驗(yàn)；可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)。
　　各試驗(yàn)類別包括了原理、理論模型、試驗(yàn)設(shè)計(jì)、實(shí)施程序、設(shè)備要求、關(guān)鍵技術(shù)及試驗(yàn)示例等并介紹了相關(guān)的可靠性基礎(chǔ)知識(shí)和數(shù)理統(tǒng)計(jì)方法，提供了元器件失效分析和破壞性物理分析方法、程序及其關(guān)鍵性技術(shù)，使用狀態(tài)中元器件失效預(yù)測(cè)技術(shù)。
本書可作為高校教師、研究生、本科生及從事可靠性研究的工程技術(shù)人員工作的參考書。

作者簡(jiǎn)介

目錄

第1章 概論
1.1 可靠性術(shù)語(yǔ)和參數(shù)
1.2 電子元器件的可靠性表征
1.3 可靠性試驗(yàn)的目的和分類
1.4 可靠性試驗(yàn)技術(shù)的發(fā)展
參考文獻(xiàn)
第2章 可靠性數(shù)學(xué)及應(yīng)用
2.1 壽命分布
2.2 抽樣檢驗(yàn)
2.3 試驗(yàn)數(shù)據(jù)的處理方法
參考文獻(xiàn)
第3章 壽命試驗(yàn)
3.1 壽命與應(yīng)力的關(guān)系
3.2 指數(shù)分布?jí)勖囼?yàn)
3.3 加速壽命試驗(yàn)
3.4 壽命試驗(yàn)中的一些技術(shù)問(wèn)題
參考文獻(xiàn)
第4章 環(huán)境試驗(yàn)
4.1 概述
4.2 氣侯環(huán)境試驗(yàn)
4.3 機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)
4.4 水浸漬試驗(yàn)
4.5 低氣壓試驗(yàn)
4.6 太陽(yáng)輻射試驗(yàn)
4.7 電離輻射試驗(yàn)
4.8 鹽霧腐蝕試驗(yàn)
4.9 霉菌試驗(yàn)
4.10 沙塵試驗(yàn)
4.11 地震試驗(yàn)
4.12 聲震試驗(yàn)
4.13 運(yùn)輸試驗(yàn)
4.14 天然環(huán)境試驗(yàn)
4.15 綜合環(huán)境試驗(yàn)
參考文獻(xiàn)
第5章 極限應(yīng)力試驗(yàn)
5.1 極限應(yīng)力試驗(yàn)的概念
5.2 進(jìn)行極限應(yīng)力試驗(yàn)的目的和作用
5.3 極限應(yīng)力試驗(yàn)的電參數(shù)測(cè)試
5.4 極限應(yīng)力試驗(yàn)的程序
5.5 極限應(yīng)力試驗(yàn)方法
5.6 案例
參考文獻(xiàn)
第6章 電子元器件鑒定試驗(yàn)
……
第7章 可靠性篩選試驗(yàn)
第8章 可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)
第9章 元器件失效分析和失效機(jī)理
第10章 破壞性物理分析（DPA）
第11章 使用狀態(tài)中元器件失效預(yù)測(cè)技術(shù)
第12章 試驗(yàn)數(shù)據(jù)信息智能化管理系統(tǒng)（LIMS）