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當(dāng)前位置：武漢纖云科技有限公司>> 偏振相關(guān)損耗測(cè)量?jī)x PDL-201
| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地武漢市
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更新時(shí)間：2025-01-28 09:04:40瀏覽次數(shù)：178次
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General Photonics公司的PDL/IL測(cè)試儀(PDL-201)采用值/最小值搜尋法(符合TIA/EIA-455-198標(biāo)準(zhǔn))，能夠?qū)ζ骷钠裣嚓P(guān)損耗(PDL)、插入損耗(IL)、光功率進(jìn)行快速測(cè)量，測(cè)量速度0.2s。該測(cè)試儀工作波長(zhǎng)覆蓋1260～1620nm，在高、低PDL和各種SOP的情況下都能得到精確的測(cè)量結(jié)果，無(wú)需波長(zhǎng)校準(zhǔn)，比基于Mueller矩陣方法測(cè)得的PDL值更準(zhǔn)確。該測(cè)試儀擁有RS-232、USB 及以太網(wǎng)接口，可以方便地與計(jì)算機(jī)連接，進(jìn)行遠(yuǎn)程控制和數(shù)據(jù)傳輸，是精確、快速測(cè)量無(wú)源器件、DWDM 器件的理想儀器。
產(chǎn)品特性：
30 ms的測(cè)量速度
較寬的波長(zhǎng)范圍
PDL測(cè)量精度高
PDL模擬輸出
高亮的OLED屏
產(chǎn)品應(yīng)用：
PDL與波長(zhǎng)測(cè)量
DWDM器件特性測(cè)試
光纖傳感元件特性測(cè)試
插入損耗(IL)的測(cè)量
器件生產(chǎn)、研發(fā)、質(zhì)量評(píng)估
| 性能參數(shù) | 指標(biāo) |
| 工作波長(zhǎng)范圍 | 1260 to 1620 nm |
| 分辨率 | 0.01 dB |
| PDL測(cè)量精度 | +/- (0.01 + 5% PDL) dB |
| PDL測(cè)量可重復(fù)性 | +/- (0.005 + 2% PDL) dB |
| PDL測(cè)量范圍 | 0 to 45 dB |
| IL測(cè)量精度 | +/- (0.01 + 5% PDL) dB |
| IL測(cè)量可重復(fù)性 | +/- (0.005 + 2% PDL) dB |
| IL測(cè)量范圍 | 0 to 45 dB |
| 注入功率范圍 | -40 dBm to +6 dBm |
| 測(cè)量速度 | 30 ms/次（輸入功率> -30 dBm） |
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