牛津儀器膜厚儀獲得MacRobert獎提名

牛津儀器出品的X-Max 硅漂移探測器入圍2013年MacRobert*zui高工程學獎。裝配在掃描電鏡（SEM）的X-Max大面積能譜儀探測器用來檢測微納米級別樣品的化學成分。分析包括半導體內細微夾雜、槍擊殘留物甚至納米材料。
MacRobert獎是英國歷史zui悠久榮譽zui高的工程領域獎項，用來獎勵既能帶來巨大的商業價值又能推動社會發展的杰出發明創造。
投票委員會由多名學術大儒以及創業組成。他們從現代工程浩瀚的成就項目中遴選而出zui后三位角逐者。
牛津儀器納米分析部總Ian Barkshire博士稱：“能夠進入決賽，我們感到非常榮幸。X-Max探測器的發展向技術及工程領域提出了新的課題，成為當今市場的領導產品，實現更小尺度的材料分析。”
MacRobert獎的評選主席John Robinson FREng說：“入圍三家公司都在不同的領域對英國工業技術發展起到極大的推動作用，都是從創業的基礎上發展至今成為世界的高科技公司。我們具有非常良好的科研基礎，在這個基礎上涌現出一大批成功的高科技企業，我們今年提名的這三家企業都是在各自領域從無到有獲得巨大進步的單位，MacRobert獎也鼓勵更多的公司關注科技投入，行業發展。”