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雙棱鏡光干涉實驗儀 型號；DP-FD-FBI-B
1826年法科學家菲涅耳(Fresnel)用雙棱鏡將束相干光的波前分成兩部分，形成分波面干涉，利用測量干涉條紋間距(毫米量),求得光的波長(納米量)。此光干涉實驗的物理思想、實驗方法與測量技巧,具有很深的教學價值。本雙棱鏡光干涉實驗儀具有以下優點：
1.配有半導體激光 (650.0nm)單色光源，半導體激光經大幅度降低光強處理，用其作光源具有相干性且不傷害眼睛的優點，可很方便調出圖像清晰干涉條紋，也為鈉光干涉條紋調節帶來方便，測量二種光的波長行。
2.導軌和轉盤采用強度鋁合金材料、燕尾槽結構、轉盤靈活、不會生銹、經久耐用、手感好。
3．帶有黑色擋光罩，可在白光及通風條件下做光學實驗。
本儀器可供大院校基礎物理實驗和性研究性物理實驗。
應用本儀器可以成以下實驗：
1．觀察雙棱鏡的干涉現象。
2．測量激光器的波長以及鈉燈黃光的波長。
3．觀察其他光源的雙棱鏡光干涉現象。
儀器主要參數：
1．導軌 長80.0cm，分度值1mm；滑塊5只，其中1個滑塊上帶轉動裝置。
2．帶轉盤的狹縫 縫寬約0.04mm。
3．測微目鏡和支架 測微目鏡量程0-8mm，分度值0.01mm。
4．光源 半導體激光器，光波長650.0nm，已大幅度衰減光強。工作電壓直流3V。
5．鈉光燈及電源（選配）。
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