18210605334
固體介質折射率測定儀 型號；DP-FD-OE-3
折射率是反映介質光學性質的重要參數(shù)之。本儀器采用的實驗方法，在光學測量中具有典型性和基本要求的點。用測布儒斯角的方法測量透明介質的折射率及利用測量激光照射半導體薄片的反射系數(shù)方法，測量部分半導體如硅、砷化鎵等介質的折射率。本儀器具有體積小，重量輕，調節(jié)方便，裝置牢靠，實驗數(shù)據(jù)穩(wěn)定可靠等優(yōu)點。本儀器可用于基礎物理實驗，性與研究性物理實驗及物理奧林匹克競賽培訓實驗用。本儀器具有以下優(yōu)點：
1.采用強度鋁合金材料制成，表面經(jīng)陽氧化處理 ,儀器重量輕、體積小、耐用、不會生銹，使用壽命長。
2.帶有刻度的轉盤經(jīng)精心和加工，轉動輕巧靈活，讀數(shù)準確。
3.采用數(shù)字式光功率計測量偏振光光強，測量結果穩(wěn)定可靠。
4.有黑色遮光罩擋光，可在明光及通風條件下做光學實驗，在同實驗室各組實驗互不干擾。
應用本儀器可以成以下實驗：
1. 光的偏振現(xiàn)象的觀察和分析，加深對光偏振規(guī)律的認識。掌握獲得線偏振光的知識及確定偏振片偏振方向的方法。
2. 用布儒斯定律，測量對可見光透明固體材料的折射率。
3．通過測量偏振光二個分量入射到介質上反射光的反射系數(shù)，測量半導體硅等材料的折射率。
儀器主要參數(shù)：
1. 半導體激光器 波長650nm，功率 1.5-2.0mW，工作電壓3V。
2. 轉盤 直徑為2.0cm，可調范圍0-360°，分度值1°。
3．水平光學轉臺 可 0-360゜轉動，分度值 1°。
4．數(shù)字式光功率計 量程有200uW和2mW二檔，三位半液晶顯示
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業(yè)自行提供，信息內(nèi)容的真實性、準確性和合法性由相關企業(yè)負責，儀表網(wǎng)對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示：為規(guī)避購買風險，建議您在購買產(chǎn)品前務必確認供應商資質及產(chǎn)品質量。
