杭州晶飛科技有限公司
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技術規格：
參 數 | 特 性 | 備 注 |
波長測試范圍 | 350nm～950nm | |
| 波長精度 | 0.4nm | |
| 探測器性能 | 濱松CCD | |
| 光學平臺 | CT-F/4-101 | |
| 色坐標精度 | (x,y)< 0.002 | |
| 色坐標穩定性 | <0.0005 | |
| 主波長測試精度 | <0.5nm | |
| 主波長穩定性 | <0.2nm | |
| 溫漂特性 | 色坐標變化小于 0.001 ； 波長變化小于0.5nm | |
| 線性度 | 色坐標變化小于 0.0003； 波長變化小于0.2nm | |
| 測試速度 | 積分時間+2ms | |
| 積分時間 （光譜曝光時間） | 0.4ms-500ms | |
| 靈敏度 | 400nm處 130個光子 | |
| 動態比 | 1000:1 | |
| 接口及供電 | USB 2.0/480M；USB供電 |
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