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北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司資料大小
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41次JX-SBK50型教學(xué)便攜式澤貝克系數(shù)測(cè)試儀
JX-SBK50型教學(xué)便攜式澤貝克系數(shù)測(cè)試儀可用于熱電材料初選,快速篩選薄膜、塊體等熱電材料樣品;能進(jìn)行均勻性測(cè)試,對(duì)材料內(nèi)外部均勻情況作初步定量評(píng)價(jià);還適用于本科階段各類熱電材料相關(guān)原理教學(xué)、實(shí)驗(yàn)講解等教學(xué)環(huán)節(jié)。
主要技術(shù)參數(shù):
1.探筆溫差:熱端固定50℃
2.樣品電阻:≤10kΩ
3.Seebeck量程:≦700μV/K
4.Seebeck分辨率:0.1μV/K
5.Seebeck系數(shù)最快測(cè)試時(shí)間:11s
6.相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差(重復(fù)性):Seebeck<5%
7.數(shù)據(jù)記錄:顯示12個(gè)測(cè)試結(jié)果
8.加熱功率:6W
9.樣品尺寸:Seebeck系數(shù)
方形樣品:長(zhǎng)≥5mm,寬≥1mm
圓形樣品:直徑≥5mm
柱形樣品:長(zhǎng)≥5mm,直徑≥0.2mm
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