題記：隨著生活水平的提高，越來(lái)越多的電子產(chǎn)品融入我們的生活的方方面面，使得我們生活更簡(jiǎn)便，更豐富。但是很多電子產(chǎn)品會(huì)有重金屬含量，這個(gè)含量如果超標(biāo)，就會(huì)危害我們的健康，所以我們需要
rohs測(cè)試儀。
其實(shí)rohs測(cè)試儀還有一個(gè)名字，叫X射線熒光分析儀，而且還分為能量色散型和波長(zhǎng)色散型，能量色散型因其技術(shù)原理及結(jié)構(gòu)比波長(zhǎng)色散型簡(jiǎn)單，所以現(xiàn)在霸占著大部分得市場(chǎng)。
rohs測(cè)試儀還有很多特點(diǎn)，比如：
1.下照式：可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求
2.準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換，滿足各種測(cè)試方式的應(yīng)用
3.移動(dòng)平臺(tái)：精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，方便定位測(cè)試點(diǎn)
4.rohs測(cè)試儀高分辨率探測(cè)器：提高分析的準(zhǔn)確性
5.高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率。
rohs測(cè)試儀元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)，分析檢出限可達(dá)1ppm，分析含量一般為1ppm到99.99%，任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型，相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型，多變量非線性回歸程序，溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
rohs測(cè)試儀可以分析地礦與合金(銅、不銹鋼等)成分分析，金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定，黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。
rohs測(cè)試儀圖：
rohs測(cè)試儀就是X射線熒光光譜儀，其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。
X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類，波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)，波長(zhǎng)色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測(cè)角儀、探測(cè)器等，而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測(cè)器和相關(guān)電子與控制部件，相對(duì)簡(jiǎn)單。
波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過(guò)測(cè)定角度，即可獲得待測(cè)元素的譜線波長(zhǎng)：
nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)
式中 ，λ為分析譜線波長(zhǎng)；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級(jí)次。利用測(cè)角儀可以測(cè)得分析譜線的衍射角，利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長(zhǎng)，從而獲得待測(cè)元素的特征信息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測(cè)器，通過(guò)測(cè)定由探測(cè)器收集到的電荷量，直接獲得被測(cè)元素發(fā)出的特征射線能量：
Q=kE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測(cè)器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量；k為不同類型能量探測(cè)器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過(guò)測(cè)定電荷量可得到待測(cè)元素的特征信息。
待測(cè)元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術(shù)，并對(duì)獲得的強(qiáng)度進(jìn)行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。
rohs測(cè)試儀是為了控制生產(chǎn)商生產(chǎn)的產(chǎn)品中對(duì)人體健康有害的重金屬含量。比如空調(diào)、洗衣機(jī)、吸塵器、熱水器、手機(jī)、這些產(chǎn)品在人們生活中都會(huì)經(jīng)常遇到，所以如果重金屬超標(biāo)會(huì)影響人體健康。建議生產(chǎn)商要嚴(yán)格控制重金屬含量，保障廣大消費(fèi)者的健康。
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