恒溫恒濕試驗箱可以給電子元器件做哪些檢測？

恒溫恒濕試驗箱用于電子電器元件、自動化零部件、通訊元件、汽車零部件、電子芯片IC、半導體陶瓷磁性和高分子材料的物理變化；測試其材料承受高低溫的性能及產品在熱脹冷縮中的化學變化或物理損傷，確認產品的質量；從精密IC到重型機械元件，也是各領域產品測試的試驗箱。

為保證整批電子元器件的可靠性，滿足整機的要求，我們需要排除在一些特定的使用條件下可能出現初始故障的元器件。

（一）高溫儲存
電子元器件的失效大多是由于機體和表面的各種物理化學變化引起的，這些變化與溫度密切相關。溫度升高后，化學反應速度大大加快，加速失效過程；使有缺陷的元件能及時暴露出來，加以淘汰。

高溫篩分廣泛應用于半導體器件中，可有效消除表面污染、鍵合不良和氧化層缺陷等失效機理。一般在結溫下儲存24~168小時。高溫儲存后，可以穩定元器件的參數性能，減少使用中的參數漂移。

（二）電力測試
篩選中，在熱電應力的綜合作用下，可以很好地暴露出元器件本體和表面的許多潛在缺陷，這是可靠性篩選的重要項目。各種電子元器件通常在額定功率條件下精煉幾小時到168小時。有些產品，如集成電路，不能隨便改變條件，而是可以采用高溫工作方式來提高工作結溫，達到高應力狀態。

（三）溫度循環
電子產品在使用過程中會遇到不同的環境溫度條件。在熱脹冷縮的應力作用下，熱匹配性能差的元件很容易失效。溫度循環篩選利用高溫和低溫之間的熱脹冷縮應力，可有效剔除具有熱性能缺陷的產品。常用的元器件篩選條件為-55~125℃，5~10個循環。

電力精煉需要專門的測試設備，成本高，篩選時間不宜過長。民用產品通常是幾個小時，高可靠性產品可以選擇100168小時，航空級部件可以選擇240小時或更長的周期。

（四）篩選元件的必要性
在產品的制造過程中，由于人為因素或原材料、工藝條件、設備條件的波動，最終的成品并不能全部達到預期的固有可靠性。在每批成品中，總有一些產品存在一些潛在的缺陷和弱點，其特點是在一定的應力條件下早期失效；早期失效部件的平均壽命比正常產品短得多。