摘要 “的SEM更為緊湊”寬幅僅為45 cm的緊湊型的設計，仍具備4.0 nm的圖像分辨率。全新開發(fā)的用戶界面和電子光學系統(tǒng)讓您深切體驗其高性能。特點FlexSE

摘要 臺式掃描電子顯微鏡(SEM)全新升級。我們以“更高畫質、更易于使用、更易于觀察”為理念，開發(fā)出TM4000系列。在此基礎上，我們又推出功能更為多樣的TM4000

摘要 集優(yōu)異性能、操作簡便性、多樣化功能于一身日立高新推出的掃描電鏡SU3800/SU3900兼具操作性和擴展性，結合眾多的自動化功能，可高效發(fā)揮其高性能。SU390

摘要掃描電子顯微鏡（SEM）是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品，通過光束與物質間的相互作用，來激發(fā)各種物理信息，對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質微觀形貌表征的目的。此外，掃描電子顯微鏡和其他分析儀器相結合...

摘要 日立掃描電子顯微鏡SU8700

摘要 產(chǎn)品參數(shù)產(chǎn)品編號:所屬品牌:JEOL產(chǎn)品型號:JEM-2100Plus額定功率：按實際方案提供所屬類別:掃描電鏡所屬用途:金相組織觀察應用領域:產(chǎn)品特性:功能高度整合

摘要 特點日立的雙隙物鏡設計

摘要 高分辨率掃描透射電子顯微鏡成像HAADF-STEM圖像0.136nm

摘要 超高分辨觀察和分析能力日立的高亮度肖特基場發(fā)射電子槍可同時支持超高分辨觀察和快速微束分析

摘要 集優(yōu)異性能、操作簡便性、多樣化功能于一身日立高新推出的掃描電鏡SU3800/SU3900兼具操作性和擴展性，結合眾多的自動化功能，可高效發(fā)揮其高性能

摘要 新的操作屏幕和觸控屏帶來了方便的操作體驗，使用起來非常直觀

摘要 FlexSEM1000II“的SEM更為緊湊”寬幅僅為45cm的緊湊型的設計，仍具備4.0nm的圖像分辨率

摘要 專門為電子束敏感樣品和需**300萬倍穩(wěn)定觀察的*半導體器件，高分辨成像所設計

摘要 產(chǎn)品型號：B008產(chǎn)品類別：便攜式手動數(shù)碼顯微鏡產(chǎn)品特色：高清晰、高精度手動調焦顯微鏡

摘要 JSM-7200F 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡，應用了日本電子旗艦機-JSM-7800F Prime采用的浸沒式肖特基電子槍技術，標配了TTLS系統(tǒng)（Through-The-Lens System），因此無論是在高/低加速電壓下，空間分辨率都比傳統(tǒng)機型有了很大的提升。

摘要 日本JEOL JSM-IT500 掃描電子顯微鏡，是JEOL InTouchScope系列的新機型。 從設定視野到生成報告，用于分析的軟件整合于一體，加快了作業(yè)速度！是一款無縫操作，使用更加方便的掃描電子顯微鏡。

摘要 JSM-7610FPlus 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡，實現(xiàn)了分辨率15kV 0.8nm、1kV 1.0nm的進一步提升，采用半浸沒式物鏡和High Power Optics照明系統(tǒng)，提供穩(wěn)定的高空間分辨率觀察和分析。

摘要 JSM-7900F 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡，它繼承了上一代廣獲好評的性能如的空間分辨率、高穩(wěn)定性、多種功能等的同時，操作性能極大簡單化。該設備不依賴操作者的技能，始終能夠發(fā)揮其性能。

摘要Serial Block-face SEM 3View 發(fā)射掃描電子顯微鏡，肖特基場發(fā)射掃描電子顯微鏡能長時間穩(wěn)定地提供高電流下的微細探針，與3View2XP（Gatan公司制造）結合使用，能對樣品進行自動切割，自動獲取圖像。通過對獲得的圖像進行三維重構，可以對精細結...

摘要 日本JEOL JSM-IT500HR 掃描電子顯微鏡，采用了新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，因而能獲得令人驚嘆的高畫質圖像。即使對實時圖像，也能輕松地在CCD圖像上從尋找視野迅速過渡到高倍率（100,000）觀察。

摘要 JSM-IT200 InTouchScope 掃描電子顯微鏡，是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。

摘要 JCM-7000 NeoScope 臺式掃描電子顯微鏡，是以誰都可以操作的SEM/EDS為理念的臺式掃描電子顯微鏡， 標配Zeromag、Live analysis、 Live 3D功能。

摘要 日本JEOL JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡，實現(xiàn)了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器，加速電壓可達300kV，是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實現(xiàn)了高的STEM-HAADF像分辨率。

摘要 JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡，以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑，易用性強，外觀設計精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗。

摘要 日本電子JEM-2100Plus 透射電子顯微鏡，不僅擁有信譽的JEM-2100 的電子光學系統(tǒng)，還增加了的控制系統(tǒng)，大幅提高了可操作性。 多功能電子顯微鏡JEM-2100Plus性能*，操作方便，簡明易懂，在材料、醫(yī)學、生物學等多個研究領域提供優(yōu)異的解決方案。

摘要 JEM-3200FS場發(fā)射電子顯微鏡配備了加速電壓為300kV的場發(fā)射電子槍（FEG）和鏡筒內(nèi)置式型能量過濾器，能為廣泛的研究領域提供各種全新的解決方案。

摘要 JEM-1400Flash 透射電子顯微鏡配備了高靈敏度sCMOS相機、超廣視野的蒙太奇系統(tǒng)以及光學顯微鏡圖像的聯(lián)動功能，是一款新型的高通量、高分辨率 的120kV透射電子顯微鏡。

摘要 JEM-Z200FSC 場發(fā)射冷凍電子顯微鏡發(fā)，標配冷場發(fā)射電子槍、柱體內(nèi)能量過濾器（能量過濾器）、液氮冷卻樣品臺和12位自動樣品更換系統(tǒng)。新設計的能量過濾器與無孔位相板的組合，進一步提高了生物樣品的襯度。

摘要型號：JetSCAN產(chǎn)品介紹：JetSCAN用于航空發(fā)動機安全檢測與分析的便攜式掃描電子顯微鏡.JetSCAN：專用于航空發(fā)動機安全檢測與分析的便攜式掃描電子顯微鏡JetSCAN整體解決方案中集成了強大的數(shù)據(jù)分析和風險評估功能，是一款用于軸承磨損狀態(tài)監(jiān)測的*診斷與預測...

摘要 型號:Sigma系列產(chǎn)品介紹：Sigma系列產(chǎn)品用于高品質成像與高級分析的場發(fā)射掃描電子顯微鏡.靈活的探測，4步工作流程，高級的分析性能將高級的分析性能與場發(fā)射掃描技術相結合，利用成熟的Gemini電子光學元件

摘要 型號：ParticleSCANVP產(chǎn)品介紹：ParticleSCANVP:配有SmartPI用戶界面的堅固耐用型掃描電子顯微鏡.ParticleSCANVP：開創(chuàng)工藝過程控制新標準ParticleSCANVP是蔡司掃描電鏡（SEM）家族的新成員

摘要 型號：EVO系列產(chǎn)品描述:EVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗結合在一起，同時能夠吸引經(jīng)驗豐富的用戶以及新用戶

摘要JEM-ARM200F NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡,標配了日本電子獨自開發(fā)的冷場發(fā)射電子槍（Cold-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）。無論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下，均能實現(xiàn)原子級分辨率的觀察與分析。同時還配備了...

摘要AFMinSEM 德國 Nano analytik（ParcanNano)針尖電子束光刻與掃描電子顯微鏡組合系統(tǒng) ,既可以在大氣環(huán)境下實現(xiàn)樣品快速表征，也可以集成在真空環(huán)境中，如集成在掃描電子顯微鏡（SEM）中。無需對SEM腔室進行任何改造，保留SEM原有功能，賦予...

摘要場發(fā)射冷凍電子顯微鏡JEM-Z300FSC (CRYO ARM 300)配備了冷場發(fā)射電子槍、柱體內(nèi)能量過濾器(能量過濾器)、側插式液氮冷卻樣品臺和自動樣品交換系統(tǒng)，能夠在冷凍低溫下觀察生物大分子。樣品交換系統(tǒng)內(nèi)最多可以存儲12個樣品，可以任意取出和交換一個或數(shù)個樣品...

摘要 數(shù)字化掃描電子顯微鏡2800B數(shù)字化電子顯微鏡是生物學、醫(yī)學、化學、農(nóng)林和材料科學等領域進行科學研究的重要工具，電子顯微鏡技術已成為上述各領域研究工作者應掌握的一項基本技能

摘要 數(shù)字化掃描電子顯微鏡EM3200數(shù)字化掃描電子顯微鏡產(chǎn)品在電器控制系統(tǒng)、計算機系統(tǒng)、操作控制軟件、圖像控制系統(tǒng)、圖像處理軟件、自動控制功能等諸多方面都進行了改進

摘要 3800B型掃描電子顯微鏡3800B型掃描電子顯微鏡，是在幾十年的研究和生產(chǎn)經(jīng)驗基礎上，引用現(xiàn)代計算機及數(shù)字圖象技術，開發(fā)出的高性能產(chǎn)品

摘要 美國Delong 透射電子顯微鏡LVEM5（Bench-top TEM),小型臺式多用途電子顯微鏡，透射電鏡（TEM）、電子衍射（ED）、掃描電鏡（SEM）、掃描透射電鏡（STEM）四種成像模式，分辨率：1.5nm（TEM）；10nm（SEM）。

摘要 德國Zeiss SIGMA 300 場發(fā)射電子顯微鏡，Gemini鏡筒，超高的束流穩(wěn)定性，的低電壓性能，In Lens 探測器，磁性材料高分辨觀察，X射線分析設計，便越操作系統(tǒng)設計，超大空間，多接口，升級靈活。

摘要 JEM-1000 超高壓透射電子顯微鏡，由于超高壓透射電子顯微鏡的加速電壓很高電子波長很短，即使增大物鏡極靴之間的間隙，也能獲得高分辨率的圖像。此外，電子束具有很強的穿透能力，即使厚樣品也能觀察到清晰的圖像，這是超高壓透射電子顯微鏡的。

摘要 JSM-7610FPlus，用于納米科學的肖特基場發(fā)射掃描電子顯微鏡， 是一款采用半浸沒式物鏡、擁有超高分辨率的場發(fā)射掃描電子顯微鏡，能觀察微細結構和進行微區(qū)元素分析。

摘要 型號KP-AF200V自動對焦相機變倍比1:6

摘要 KP-H1660V目鏡0

摘要臺式掃描電子顯微鏡（DesktopScanningElectronMicroscope,DesktopSEM）,又俗稱“桌上型掃描電鏡”或“MiniSEM”，相較于傳統(tǒng)大型SEM（落地式），臺式SEM具有體積小巧、操作簡便、價格便宜、快速抽真空等優(yōu)勢，而且它的放大倍數(shù)...