本科生微電子器件及材料實(shí)驗(yàn)?zāi)康?/strong>

通過實(shí)驗(yàn)動手操作，加深對半導(dǎo)體物理理論知識的理解，掌握半導(dǎo)體材料和不同器件性能的表征方法及基本實(shí)驗(yàn)技能，培養(yǎng)分析問題和解決問題的能力。

本科生微電子器件及材料實(shí)驗(yàn)?zāi)夸?/strong>
實(shí)驗(yàn)一：金屬-氧化物-半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管特性IV特性測試實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)二：四探針法測量半導(dǎo)體電阻率測試實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)三：        MOS電容的CV特性測試實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)四：半導(dǎo)體霍爾效應(yīng)測試實(shí)驗(yàn)實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)五：激光二極管LD的LIV特性測試實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)六：太陽能電池的特性表征實(shí)驗(yàn)

本科生微電子器件及材料實(shí)驗(yàn)測試平臺優(yōu)勢

滿足本科生基礎(chǔ)教學(xué)實(shí)驗(yàn)中微電子器件和材料測試需求
測試設(shè)備簡單易用，專業(yè)全威，方便學(xué)生動手操作
核心設(shè)備測試精度高，滿足新材料和新器件的指標(biāo)要求
測試軟件功能齊全，平臺化設(shè)計(jì)，有專人維護(hù)支持，與專業(yè)測試軟件使用相同架構(gòu)
以基礎(chǔ)平臺為起點(diǎn)，可逐步升級，滿足日益增加的實(shí)驗(yàn)室測試需求

本科生微電子器件及材料實(shí)驗(yàn)測試平臺基本功能

本科生微電子器件及材料實(shí)驗(yàn)測試平臺核心

測試平臺的核心– 源測量單元（源表， SMU）

普賽斯國產(chǎn)源表四表合一 四象限模式
四線/開爾文測試功能
小信號測試
滿足先進(jìn)器件和材料測試需求

交流測試使用LCR表

探針臺：4寸或6寸手動探針臺