詳細摘要： 德Neaspec真空太赫茲波段近場光學顯微鏡HV-THz-neaSNOM，該套系統成功地繼承了德國neaspec公司THz-neaSNOM的設計優勢，采用保護的...
產品型號：所在地：更新時間：2023-07-05 在線留言深圳市藍星宇電子科技有限公司
深圳市藍星宇電子科技有限公司
詳細摘要： 德Neaspec真空太赫茲波段近場光學顯微鏡HV-THz-neaSNOM，該套系統成功地繼承了德國neaspec公司THz-neaSNOM的設計優勢，采用保護的...
產品型號：所在地：更新時間：2023-07-05 在線留言
詳細摘要： 美Nano-masterALD/PEALD原子層沉積：NLD-4000 獨立式ALD系統NLD-3500 緊湊型獨立式ALD系統NLD-3000 臺式ALD系統
產品型號：所在地：更新時間：2023-07-01 在線留言
詳細摘要： 日Tohuko超高靈敏度材料氧化分析儀CLA---化學發光分析系統，是一種利用化學發光原理，探測光子級化學發光的高性能儀器。超高的靈敏度使其能夠用于分析探測氧化...
產品型號：所在地：更新時間：2023-06-08 在線留言
詳細摘要： 布魯克 DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）設計創新，實現了更高的重復性和分辨率，垂直高度重復性高達 5。第十代 DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓...
產品型號：所在地：更新時間：2023-06-05 在線留言
詳細摘要： SE 800 PV 激光橢偏儀，SENTECH設計了SE 800 PV，用于表征由SiNx/SiO2、SiNx/SiNy或SiNx/Al2O3組成的多層鈍化膜和...
產品型號：所在地：更新時間：2022-10-11 在線留言
詳細摘要： 激光橢偏儀SE 400adv PV.是化使用的標準儀器，用于測量PV單層防反射涂層的厚度和折射率指數。特別用于表征單晶和多晶硅太陽能電池上的SiNx 防反射單層...
產品型號：所在地：更新時間：2022-10-10 在線留言
詳細摘要： 激光橢偏儀SE 500adv，橢偏儀SE 500adv將激光橢偏儀和反射儀結合在一個系統中。這種組合允許零度反射法用于快速薄膜分析，并且允許透明膜以激光橢偏儀的...
產品型號：所在地：更新時間：2022-10-09 在線留言
詳細摘要： 德國耐馳 Netzsch熱膨脹儀DIL 402 Expedis Classic ，耐馳熱膨脹儀可以精確測量各種材料（如陶瓷、玻璃與建筑材料）在熱處理過程中的膨脹...
產品型號：所在地：更新時間：2022-10-08 在線留言
詳細摘要： 激光橢偏儀 SE 400adv，激光橢偏儀SE 400adv測量透明薄膜的厚度和折射率指數，具有測量速度、亞埃級別的厚度精度和折射率測定的精度。多角度測量允許使...
產品型號：所在地：更新時間：2022-10-08 在線留言
詳細摘要： SENDURO 全自動光譜橢偏儀,包括基于測量處方的僅在幾秒鐘內即可完成的快速數據分析。橢圓儀的設計是為了便于操作：放置樣品，自動樣品對準，自動測量和分析結果。...
產品型號：所在地：更新時間：2022-10-07 在線留言
詳細摘要： SENDIRA紅外光譜橢偏儀,振動光譜的特點是傅立葉紅外光譜儀FTIR。測量紅外分子振動模的吸收譜帶，分析長分子鏈的走向和薄膜的組成。紅外光譜橢偏儀適用于測量導...
產品型號：所在地：更新時間：2022-10-06 在線留言
詳細摘要： 德國 Sentech 低成本高效益的光譜橢偏儀SENpro,SENpro橢偏儀是橢偏儀應用的智能解決方案。它具有角度計，入射角度步進值5。操作簡單，快速測量和直...
產品型號：所在地：更新時間：2022-10-05 在線留言
詳細摘要： 德國Sentech SENresearch 4.0 用于光譜橢偏儀，在寬的光譜范圍從190nm（深紫外）到3,500 nm（近紅外）。每一臺SENresearc...
產品型號：所在地：更新時間：2022-10-04 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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