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用于半導體元器件高溫存儲試驗可靠加熱技術
一、設備名稱:精密高溫試驗箱型號:LS-RUL-60二、技術指標及驗收標準1.性能(為空載時,其室溫在25℃)1.1溫度范圍:RT+10~200℃(250℃
精密型高溫烤箱:主要應于高精密儀器儀表老化試驗用
一、設備名稱:精密高溫試驗箱型號:LS-RUL-45二、技術指標及驗收標準1.性能(為空載時,其室溫在25℃)1.1溫度范圍:RT+10~200℃(250℃
技術參數:一、設備名稱:高溫試驗箱型號:LS-RUL-100二、技術指標及驗收標準1
產品主要指標名稱:精密高溫試驗箱型號:LS-RUL-80適用范圍:該產品適用于功率模塊
用于高質量產品要求的可靠加熱技術
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