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深圳市中圖儀器股份有限公司

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  • 國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體晶圓表面形貌測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：WD4000
    WD4000國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體晶圓表面形貌測(cè)量系統(tǒng)兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測(cè)量大翹曲wafer、測(cè)量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。它采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測(cè)量雙...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    半導(dǎo)體晶圓測(cè)量系統(tǒng)晶圓形貌測(cè)量系統(tǒng)無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓測(cè)量系統(tǒng)晶圓檢測(cè)設(shè)備
    2025/3/9 19:29:44966

  • 晶圓厚度翹曲度粗糙度檢測(cè)設(shè)備 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：WD4000
    WD4000晶圓厚度翹曲度粗糙度檢測(cè)設(shè)備采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測(cè)量雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立表面3D層析圖像，實(shí)現(xiàn)Wafer厚度、翹曲...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    晶圓厚度檢測(cè)設(shè)備晶圓翹曲度檢測(cè)設(shè)備晶圓粗糙度檢測(cè)設(shè)備晶圓檢測(cè)設(shè)備無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)
    2025/3/9 18:46:241062

  • 半導(dǎo)體晶圓Warp翹曲度量測(cè)設(shè)備 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：WD4000
    WD4000半導(dǎo)體晶圓Warp翹曲度量測(cè)設(shè)備通過(guò)非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    半導(dǎo)體晶圓量測(cè)設(shè)備晶圓翹曲度量測(cè)設(shè)備晶圓Warp量測(cè)設(shè)備無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓形貌量測(cè)系統(tǒng)
    2025/3/9 18:25:09962

  • 晶圓幾何形貌檢測(cè)機(jī) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：WD4000
    WD4000晶圓幾何形貌檢測(cè)機(jī)可測(cè)各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的厚度、粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。自動(dòng)測(cè)量...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)晶圓檢測(cè)機(jī)晶圓檢測(cè)設(shè)備無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓幾何形貌測(cè)量機(jī)
    2025/3/9 17:53:551029

  • 晶圓厚度Warp檢測(cè)設(shè)備 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：WD4000系列
    WD4000晶圓厚度Warp檢測(cè)設(shè)備自動(dòng)測(cè)量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。使用光譜共焦對(duì)射技術(shù)測(cè)量晶圓 Thickness、TT...
    型號(hào)： WD4000系列 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)設(shè)備晶圓厚度檢測(cè)設(shè)備晶圓Warp檢測(cè)設(shè)備無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)設(shè)備晶圓形貌檢測(cè)設(shè)備
    2025/3/9 17:15:181130

  • WD4000無(wú)圖晶圓形貌檢測(cè)設(shè)備 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：WD4000系列
    WD4000無(wú)圖晶圓形貌檢測(cè)設(shè)備兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測(cè)量大翹曲wafer、測(cè)量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。可實(shí)現(xiàn)砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍(lán)寶石...
    型號(hào)： WD4000系列 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)晶圓形貌檢測(cè)設(shè)備廠家晶圓檢測(cè)儀晶圓外觀檢測(cè)設(shè)備無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)
    2025/3/9 16:42:48747

  • 晶圓幾何量測(cè)機(jī) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：WD4000
    WD4000晶圓幾何量測(cè)機(jī)通過(guò)非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)...
    型號(hào)： WD4000 品牌：其他品牌所在地：深圳市 對(duì)比
    無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓幾何量測(cè)設(shè)備晶圓幾何形貌測(cè)量機(jī)晶圓檢測(cè)設(shè)備半導(dǎo)體晶圓量測(cè)機(jī)
    2025/3/9 16:08:43725

  • 無(wú)圖晶圓三維形貌測(cè)量?jī)x 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：WD4000
    中圖儀器WD4000無(wú)圖晶圓三維形貌測(cè)量?jī)x可實(shí)現(xiàn)砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍(lán)寶石、硅、碳化硅、玻璃不同材質(zhì)晶圓的量測(cè)。它通過(guò)非接觸測(cè)量，將晶圓...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓三維形貌測(cè)量?jī)x晶圓形貌測(cè)量設(shè)備晶圓檢測(cè)設(shè)備無(wú)圖晶圓形貌測(cè)量?jī)x
    2025/3/9 14:59:00892

  • 半導(dǎo)體晶圓形貌檢測(cè)設(shè)備 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：WD4000
    中圖儀器WD4000半導(dǎo)體晶圓形貌檢測(cè)設(shè)備采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，通過(guò)非接觸測(cè)量，將晶圓的...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓幾何量測(cè)設(shè)備晶圓檢測(cè)設(shè)備晶圓形貌測(cè)量設(shè)備半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備
    2025/3/9 14:23:08978

  • 晶圓翹曲度測(cè)試設(shè)備 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：WD4000
    WD4000晶圓翹曲度測(cè)試設(shè)備兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測(cè)量大翹曲wafer、測(cè)量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。它采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測(cè)量雙向掃描技術(shù)，...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    晶圓測(cè)試設(shè)備晶圓翹曲度測(cè)試設(shè)備翹曲度檢測(cè)設(shè)備晶圓翹曲度測(cè)量設(shè)備晶圓幾何量測(cè)設(shè)備
    2025/3/9 13:18:591017

  • 半導(dǎo)體晶圓幾何量測(cè)設(shè)備 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：WD4000
    中圖儀器WD4000半導(dǎo)體晶圓幾何量測(cè)設(shè)備可實(shí)現(xiàn)砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍(lán)寶石、硅、碳化硅、玻璃不同材質(zhì)晶圓的量測(cè)。通過(guò)非接觸測(cè)量，將晶圓的...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓幾何量測(cè)設(shè)備半導(dǎo)體晶圓量測(cè)設(shè)備晶圓幾何形貌量測(cè)設(shè)備晶圓形貌測(cè)量設(shè)備
    2025/3/9 12:39:57789

  • 晶圓形貌測(cè)量?jī)x器 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：WD4000
    中圖儀器WD4000晶圓形貌測(cè)量?jī)x器通過(guò)非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓幾何形貌量測(cè)系統(tǒng)晶圓形貌測(cè)量設(shè)備半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)晶圓形貌檢測(cè)
    2025/3/9 12:14:52934

  • 晶圓表面形貌測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：WD4000
    WD4000系列晶圓表面形貌測(cè)量系統(tǒng)采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓形貌測(cè)量設(shè)備半導(dǎo)體晶圓測(cè)量設(shè)備晶圓形貌測(cè)量設(shè)備晶圓表面形貌測(cè)量系統(tǒng)
    2025/3/9 11:28:501256

  • 晶圓三維形貌量測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：WD4000
    WD4000晶圓三維形貌量測(cè)系統(tǒng)可廣泛應(yīng)用于襯底制造 、 晶圓制造 、及封裝工藝檢測(cè) 、3C 電子玻璃 屏及其精密配件、光學(xué)加工 、顯示面板 、MEMS 器...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    晶圓三維形貌測(cè)量系統(tǒng)晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)無(wú)圖晶圓形貌測(cè)量系統(tǒng)半導(dǎo)體晶圓測(cè)量系統(tǒng)晶圓形貌測(cè)量設(shè)備
    2025/3/9 10:50:501363

  • 半導(dǎo)體晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：WD4000
    WD4000半導(dǎo)體晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。通過(guò)非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng)半導(dǎo)體測(cè)量系統(tǒng)半導(dǎo)體晶圓測(cè)量系統(tǒng)無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)半導(dǎo)體測(cè)量設(shè)備
    2025/3/9 10:16:521212

  • 晶圓形貌量測(cè)設(shè)備 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：WD4000
    WD4000晶圓形貌量測(cè)設(shè)備采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、Bow、...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    晶圓形貌測(cè)量設(shè)備晶圓形貌測(cè)量系統(tǒng)晶圓量測(cè)設(shè)備半導(dǎo)體晶圓量測(cè)設(shè)備半導(dǎo)體晶圓量測(cè)系統(tǒng)
    2025/3/9 9:56:331202

  • 半導(dǎo)體晶圓形貌測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：WD4000
    WD4000半導(dǎo)體晶圓形貌測(cè)量系統(tǒng)采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、B...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)設(shè)備晶圓形貌測(cè)量系統(tǒng)晶圓形貌檢測(cè)設(shè)備晶圓測(cè)量系統(tǒng)無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)
    2025/3/9 9:29:441012

  • 無(wú)圖晶圓幾何形貌量測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：WD4000
    中圖儀器WD4000無(wú)圖晶圓幾何形貌量測(cè)系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。它采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測(cè)量雙向掃...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓幾何形貌量測(cè)系統(tǒng)無(wú)圖晶圓形貌量測(cè)系統(tǒng)晶圓形貌量測(cè)系統(tǒng)半導(dǎo)體晶圓量測(cè)系統(tǒng)
    2025/3/9 8:48:531166

  • 晶圓表面形貌檢測(cè)設(shè)備 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：WD4000
    中圖儀器WD4000晶圓表面形貌檢測(cè)設(shè)備自動(dòng)測(cè)量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。通過(guò)非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測(cè)量分...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    晶圓檢測(cè)設(shè)備晶圓形貌檢測(cè)設(shè)備晶圓表面形貌檢測(cè)設(shè)備半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)設(shè)備無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)
    2025/3/9 8:00:331295

  • 無(wú)圖晶圓幾何測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：WD4000
    WD4000系列無(wú)圖晶圓幾何測(cè)量系統(tǒng)采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    晶圓幾何測(cè)量系統(tǒng)無(wú)圖晶圓測(cè)量系統(tǒng)晶圓表面形貌測(cè)量系統(tǒng)晶圓測(cè)量設(shè)備晶圓幾何檢測(cè)機(jī)
    2025/3/8 21:56:08871

  • 晶圓幾何形貌測(cè)量設(shè)備 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：WD4000
    WD4000晶圓幾何形貌測(cè)量設(shè)備通過(guò)非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    晶圓測(cè)量設(shè)備晶圓形貌測(cè)量設(shè)備晶圓檢測(cè)機(jī)晶圓幾何形貌測(cè)量系統(tǒng)無(wú)圖晶圓測(cè)量設(shè)備
    2025/3/8 21:30:241072

  • 晶圓表面三維形貌測(cè)量設(shè)備 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：WD4000
    WD4000晶圓表面三維形貌測(cè)量設(shè)備集成厚度測(cè)量模組和三維形貌、粗糙度測(cè)量模組，使用一臺(tái)機(jī)器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三維形貌的...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    晶圓形貌測(cè)量設(shè)備晶圓三維形貌測(cè)量設(shè)備無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓表面測(cè)量設(shè)備半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)
    2025/3/8 20:29:221202

  • WD4000無(wú)圖晶圓檢測(cè)機(jī) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    WD4000無(wú)圖晶圓檢測(cè)機(jī)可廣泛應(yīng)用于襯底制造、晶圓制造、及封裝工藝檢測(cè)、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、顯示面板、MEMS器件等超精密加工行業(yè)。可測(cè)各類...
    型號(hào)： 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    無(wú)圖晶圓檢測(cè)機(jī)晶圓檢測(cè)設(shè)備半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)晶圓檢測(cè)設(shè)備廠商晶圓檢測(cè)機(jī)
    2025/3/8 20:23:001078

  • WD4000無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    WD4000無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)量 Wafer 厚度 、表面粗糙度 、三維形貌 、單層膜厚 、多層膜厚 。可廣泛應(yīng)用于襯底制造 、 晶圓制造 、及封裝工藝...
    型號(hào)： 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    晶圓檢測(cè)機(jī)無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓檢測(cè)設(shè)備廠商晶圓表面檢測(cè)機(jī)國(guó)產(chǎn)晶圓檢測(cè)機(jī)
    2025/3/8 20:12:311157
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