詳細(xì)摘要： Leica EM TIC 3X通過離子槍激發(fā)獲得的離子束，以垂直于樣品側(cè)面縱向轟擊樣品，可獲得高質(zhì)量無應(yīng)力切割截面，以用于掃描電子顯微鏡（SEM），顯微結(jié)構(gòu)分析...
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2025-04-20 在線留言深圳市新則興科技有限公司
深圳市新則興科技有限公司
詳細(xì)摘要： Leica EM TIC 3X通過離子槍激發(fā)獲得的離子束，以垂直于樣品側(cè)面縱向轟擊樣品，可獲得高質(zhì)量無應(yīng)力切割截面，以用于掃描電子顯微鏡（SEM），顯微結(jié)構(gòu)分析...
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詳細(xì)摘要： 徠卡EM TXP 標(biāo)靶面制備系統(tǒng)具有定點修塊拋光功能，是用鋸，磨，銑削，拋光樣品后，供掃描電鏡，透射電鏡，和LM技術(shù)檢測。帶有一體化體視鏡，用于精確定位及對較細(xì)...
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詳細(xì)摘要： Leica EM ACE 一鍵式鍍膜儀系列有兩個版本可選：Leica EM ACE200適用于常規(guī)SEM和TEM分析；Leica EM ACE600 高真空鍍膜...
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詳細(xì)摘要： Leica EM UC7超薄切片機(jī)可以在室溫進(jìn)行半薄和超薄切片，為光學(xué)顯微鏡，透射電子顯微鏡，掃描電子顯微鏡，掃描電子顯微鏡和原子力顯微鏡提供的切片。可加裝Le...
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詳細(xì)摘要： 使用徠卡 EM RES102，使您的樣品具備的靈活性，具有輕薄、清潔、拋光、切割的坡度和結(jié)構(gòu)。的離子束研磨系統(tǒng)結(jié)合了在一個單工作臺面單元上制備TEM、SEM和L...
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2024-06-03 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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