HY（IC）IC卡動態彎扭試驗機設備

本儀器針對IC卡在國標GB/T 16649.1等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗; HY（IC）IC卡動態彎扭試驗機設備采用先進的同步帶傳動，非接觸式光電計數，15工位同時測量大大提高的儀器的精度和使用壽命。

HY（IC）IC卡動態彎扭試驗機設備圖片

HY（IC）IC卡動態彎扭試驗機設備主要技術參數

外形尺寸：長×寬×高（670×380×220mm）

儀器重量：70kg

電壓：AC220V±5%

功率：35W

測試速度：彎曲30r/min

測試周期：1~9999次  

彎曲度；長邊20 mm，短邊10 mm

扭曲度：15°±1°雙向

HY（IC）IC卡動態彎扭試驗機設備產品用途：用于檢測磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測試。

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