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APD集成式老化系統用于光通信行業的APD、APD-TIA 、PIN、PIN-TIA 等TO器件可靠性評估和老化篩選，最多支持3072pcs的單次老化。該系統可...
LD集成式老化系統，用于各種類型封裝LD器件的老化篩選以及可靠性壽命分析。該系統可以通過軟件配置管腳定義并提供高達500mA的驅動電流以及150℃高溫老化條件，...
普賽斯EML TO集成式老化測試系統 用于EML TO器件的老化篩選以及可靠性壽命分析。系統支持1536路器件老化，通過外部環境控溫或對器件內部TEC進行高溫控...
普賽斯APD臺式老化監控電源(PSS APDBI-IV)用于老化APD、APD-TIA 、PIN、PIN-TIA TO器件器件，提高器件的品質。該系統通過給AP...
硬件支持小電流和大電流兩個檔位，兼容VECSEL和FP/DFB激光器64路老化板作為通用載體，可以實現盤測、老化不同工位直接的轉料，提高生產效率
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