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普賽斯光通信VCSEL測(cè)試機(jī)用于面發(fā)射類型VCSEL的Wafer測(cè)試,支持芯片的LIV、光譜相關(guān)參數(shù)的測(cè)試,視覺自動(dòng)識(shí)別,全自動(dòng)完成每一顆芯片的測(cè)試;支持常溫、...
普賽斯高功率VCSEL測(cè)試機(jī)用于面發(fā)射類型VCSEL的Wafer測(cè)試,支持芯片的LIV、光譜、近場(chǎng)、遠(yuǎn)場(chǎng)相關(guān)參數(shù)的測(cè)試,視覺自動(dòng)識(shí)別,全自動(dòng)完成每一顆芯片的測(cè)試...
普賽斯高功率VCSEL測(cè)試機(jī)用于垂直腔面發(fā)射類型激光器芯片的Wafer測(cè)試,支持100ns級(jí)脈寬30A電流的LIV、光譜、近場(chǎng)、遠(yuǎn)場(chǎng)相關(guān)參數(shù)的測(cè)試,視覺自動(dòng)識(shí)別...
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