當前位置：武漢普賽斯電子股份有限公司>>可見光TO測試>> TO56自動盤測系統
產品應用
• 可見光波段TO56測試
• TO光譜測試
產品特點
• 支持任意引腳切換，多種封裝測試
• 支持老化前后對比，可對比各項測試參數，便于失效分析
• 測試加電無過沖，加電EOS波形如下（典型TypeC器件加電測試）
• 兼容PSS老化板，可一站式完成TO老化、測試
• 軟件操作方便，具有統計和分檔功能，方便批量測試分析
| 參 數 | 指 標 |
| 激光器封裝類型 | VCSEL/FP/DFB/ DML器件任意封裝類型 |
| 路數 | 64路 |
| LD驅動電流輸出 | 0 ~ 500mA |
| LD正向電壓測試 | 0 ~ 5.0V |
| LD暗電流 | 0-300nA，精度0.5%±1.5nA |
| LD保護二極管 | 電壓范圍0-5V，電流范圍0-2mA |
| MPD反壓輸出 | 0 ~ 5.0V |
| MPD暗電流測試 | 0 ~ 300nA |
| MPD背光電流測試 | 0 ~ 3000uA |
| 光功率檢測 | 0 ~ 100mW |
| 測定項目 | (1)LIV特性 (2) 光譜特性 (3)焦距 |
| 焦距測試 | 范圍3mm ~ 20mm，重復性±0.05mm，時間22s（非球@典型值） |
| 環境要求 | 25℃±5℃、≤%50濕度 |
| 電源 | AC 220V/50HZ |
| 設備尺寸 | 755mmX715mmX760mm |
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