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高低溫快速升降溫試驗(yàn)箱溫度變化率一般在5~20℃/分之間，實(shí)現(xiàn)以較快的速度真實(shí)再現(xiàn)所測樣件應(yīng)用環(huán)境條件，一般應(yīng)用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設(shè)備的篩選試...
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高低溫速變試驗(yàn)箱溫度變化率一般在5~20℃/分之間，實(shí)現(xiàn)以較快的速度真實(shí)再現(xiàn)所測樣件應(yīng)用環(huán)境條件，一般應(yīng)用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設(shè)備的篩選試驗(yàn)和失...
高低溫快速循環(huán)試驗(yàn)箱溫度變化率一般在5~20℃/分之間，實(shí)現(xiàn)以較快的速度真實(shí)再現(xiàn)所測樣件應(yīng)用環(huán)境條件，一般應(yīng)用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設(shè)備的篩選試驗(yàn)...
ESS高低溫速變試驗(yàn)箱溫度變化率一般在5~20℃/分之間，實(shí)現(xiàn)以較快的速度真實(shí)再現(xiàn)所測樣件應(yīng)用環(huán)境條件，一般應(yīng)用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設(shè)備的篩選試...
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高低溫快速變化試驗(yàn)箱溫度變化率一般在5~20℃/分之間，實(shí)現(xiàn)以較快的速度真實(shí)再現(xiàn)所測樣件應(yīng)用環(huán)境條件，一般應(yīng)用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設(shè)備的篩選試驗(yàn)...
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