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SEIFERT XRD Space Universal 通用型射線衍射
SEIFERT XRD Charon Stress Analyzer射
· 大檢測范圍，大角度范圍，高精度檢測
· 粉末、織構、應力和殘余奧氏體分析
· 可選工件轉換裝置和外部預定位系統
· 快速實時檢測，包括1D和2D檢測
· 可選掠入式射束、反射計、薄膜分析、反分辨率模式，等
· 可選針對高分辨率分析的顯微鏡鏡頭和用于顯微衍射分析的光學組件
德國SEIFERT Analytical X-ray可根據用戶的應用和要求，提供定制化的系統配置。
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